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Nanométrologie
l'AFM Virtuel
Résumé de l'AFM Virtuel
Pyramide de traçabilité
L'étalon de transfert
Le mètre SI
L'AFM métrologique du LNE
La chaîne métrologique
L'incertitude de mesure
Résultat de mesure
Incertitudes-types
Incertitude-type composée
Incertitude élargie
Méthode de Monte Carlo
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Prediction cristalographique
Prediction cristalographique
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Evaluation par DFT
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Principe de Minima Hopping
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Mon parcours de
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Mes travaux
R&D
Etalon
Image d'un réseau étalon de transfert du LNE mesurée avec l’AFM métrologique.
Détails
mAFM
Vues CAO du système de mesure de position interférométrique. La vue montre la chaîne métrologique et son orientation par rapport au système de coordonnées XYZ.
Détails
AFM Virtuel
Modélisation sous Matlab de la chaine métrologique du mAFM.
Détails
Particules
Image brute délivrée par l’AFM virtuel faisant apparaitre les erreurs de dérive et de non-linéarité des interféromètres.
Détails
mAFM
Photo du Microscope à Force Atomique métrologique (mAFM) du LNE. Son objectif principal est d’assurer la traçabilité au mètre défini par le Système International d’unités (SI) pour les mesures à l’échelle nanométrique. Pour cela, le mAFM utilise quatre interféromètres différentiels qui mesurent en temps réel le déplacement relatif de la pointe par rapport à l’échantillon. Cet instrument de référence est destiné à l’étalonnage d’étalons de transfert couramment utilisés en microscopie à champ proche (SPM) et en microscopie électronique à balayage (SEM).
Détails
Nanotubes de carbone
Synthèse de différents types de nanotubes de carbonne :
Jungle de nanotubes
Forêt de nanotubes
Nanotubes robustes
Nanoflakes
Landscape
Espace configurationel atomique en fonction de l'entropie.
Détails
Prédiction
Structures de carbone composées de plans de défauts 5+7 atomes, d'hexagones bouclés.
Détails
Minima Hopping
Schéma de simulation de Minima Hopping pour la détermination des minima locaux de plus basse énergie.
Détails
Prédiction
Structure de carbone de basse énergie à haute pression possédant essentiellement des liaisons sp
3
et sp
3
d.
Détails
Conférences
internationales
CIM
Intervention de Claude Cohen Tannoudji (prix nobel de physique 1997) au 17
ème
congrès international de métrologie (Paris 2015). Jean-Rémy Filtz (gauche), ingénieur au LNE, responsable du pôle Photonique-Énergétique.
Détails
EUSPEN
15
ème
conférence internationale d'EUSPEN (Belgique 2015)
Détails
AFM métrologique
Présentation
Autres documents
Partagés
Métrologie
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Soutenance thèse
Métrologie Française
Paul Ceria