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Mes travaux
R&D
Etalon Image d'un réseau étalon de transfert du LNE mesurée avec l’AFM métrologique. Détails
mAFM Vues CAO du système de mesure de position interférométrique. La vue montre la chaîne métrologique et son orientation par rapport au système de coordonnées XYZ. Détails
AFM Virtuel Modélisation sous Matlab de la chaine métrologique du mAFM. Détails
Particules Image brute délivrée par l’AFM virtuel faisant apparaitre les erreurs de dérive et de non-linéarité des interféromètres. Détails
mAFM Photo du Microscope à Force Atomique métrologique (mAFM) du LNE. Son objectif principal est d’assurer la traçabilité au mètre défini par le Système International d’unités (SI) pour les mesures à l’échelle nanométrique. Pour cela, le mAFM utilise quatre interféromètres différentiels qui mesurent en temps réel le déplacement relatif de la pointe par rapport à l’échantillon. Cet instrument de référence est destiné à l’étalonnage d’étalons de transfert couramment utilisés en microscopie à champ proche (SPM) et en microscopie électronique à balayage (SEM). Détails
Landscape Espace configurationel atomique en fonction de l'entropie. Détails
Prédiction Structures de carbone composées de plans de défauts 5+7 atomes, d'hexagones bouclés. Détails
Minima Hopping Schéma de simulation de Minima Hopping pour la détermination des minima locaux de plus basse énergie. Détails
Prédiction Structure de carbone de basse énergie à haute pression possédant essentiellement des liaisons sp3 et sp3d. Détails
Conférences
internationales


CIM Intervention de Claude Cohen Tannoudji (prix nobel de physique 1997) au 17ème congrès international de métrologie (Paris 2015). Jean-Rémy Filtz (gauche), ingénieur au LNE, responsable du pôle Photonique-Énergétique. Détails


EUSPEN 15ème conférence internationale d'EUSPEN (Belgique 2015) Détails
AFM métrologique
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Partagés
Métrologie
Projet AFM métrologique
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Thèse en PDF
Thèse en Latex
Soutenance thèse
Métrologie Française
Paul Ceria